IM9202 - Testvorrichtung für Impedanzmessungen, DC bis 600 MHz

Der IM9200 ist ein Standfuß für die Impedanz-Testvorrichtungen IM9201 und IM9202. Er bildet eine stabile mechanische Basis und stellt eine definierte Ausrichtung zwischen dem Testkopf des Impedanzanalysators und der montierten Testvorrichtung sicher.Die Handhabung kleiner Bauteile bei Aufbau und Messung wird durch das abnehmbare Vergrößerungsglas des IM9200 unterstützt. Bei Nichtverwendung kann das Vergrößerungsglas im Gerätekoffer der Testvorrichtung aufbewahrt werden

Die IM9201 SMD-Testvorrichtung ist für Impedanzmessungen an oberflächenmontierten Bauteilen (SMD) in Kombination mit HIOKI Impedanzanalysatoren ausgelegt, die eine zweipolige Messkonfiguration unterstützen. Sie unterstützt Messungen bis 3 GHz und ist für SMD-Bauteilgrößen von EIA0201 bis EIA1210 vorgesehen. Die Vorrichtung unterstützt Messungen bis 3 GHz und entspricht damit dem Frequenzbereich hochfrequenter Impedanzanalysatoren wie dem IM7587 und IM7585. Sie kann jedoch auch mit Impedanzanalysatoren mit geringerem maximalem Messfrequenzbereich, wie dem IM7583 oder IM7581, eingesetzt werden, wenn SMD-Bauteilgrößen unterhalb von EIA0603 vermessen werden müssen. Für einen stabilen Betrieb wird die IM9201 auf dem IM9200 Standfuß montiert, der eine sichere Auflage und eine definierte mechanische Ausrichtung zwischen dem Testkopf des Impedanzanalysators und der Testvorrichtung gewährleistet. Die Handhabung kleiner SMDBauteile wird zusätzlich durch das beim IM9200 Standfuß mitgelieferte Vergrößerungsglas erleichtert. Der elektrische Anschluss an den Testkopf des Impedanzanalysators erfolgt über die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung. Für die Verbindung der 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung mit dem 3,5-mm-Anschluss des Testkopfs ist der Adapter IM9906 erforderlich. Das IM9201 wird mit einem Gerätekoffer geliefert, der für die Aufbewahrung und den Transport der Testvorrichtung sowie des mitgelieferten Zubehörs ausgelegt ist. Der Gerätekoffer bietet zudem vorgesehene Aussparungen zur Aufnahme optionaler Zubehörteile wie des Adapters IM9906 und der Kalibrierstandards des IM9905, sodass zusammengehörige Komponenten bei Bedarf gemeinsam aufbewahrt werden können.

Technische EckdatenMessfrequenz: 1 MHz bis 3 GHzTypische analoge Messzeit: 0,5 ms Grundgenauigkeit: ±0,65 % (Z, Messwert), ±0,38° (Phase) Typische Wiederholgenauigkeit: ca. ±0,07 % (z. B. 1 nH bei 3 GHz) Prüfsignalpegel: −40,0 dBm bis +1,0 dBm Typische AnwendungenCharakterisierung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren in Forschung und EntwicklungImpedanzanalyse über Frequenzsweeps zur Bauteilbewertung und Designoptimierung Resonanzanalyse piezoelektrischer Bauteile Automatisierte Gut-Schlecht-Bewertung hochfrequenter Komponenten in Labor- und produktionsnahen Umgebungen  Modelle im Vergleich Modell Messfrequenz Prüfsignalpegel IM7587 1 MHz bis 3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7585 1 MHz bis 1,3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7583 1 MHz bis 600 MHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7581 100 kHz bis 300 MHz −40,0 dBm bis +7,0 dBm Detaillierte ProduktübersichtImpedanzmessungen bis 3 GHz ermöglichen die Analyse von HF-Bauteilen, etwa für drahtlose Kommunikationsanwendungen. Mit einem Messfrequenzbereich von 1 MHz bis 3 GHz eignet sich der IM7587 unter anderem für die Charakterisierung von Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern, Resonatoren und Anpassnetzwerken im HF-Schaltungsdesign. Messleistung und Analysefunktionen Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,65% der Impedanz und ±0,38° der Phase ist der IM7587 für präzise Impedanzmessungen bis 3 GHz ausgelegt. Eine typische Wiederholgenauigkeit von ca. ±0,07% ermöglicht auch bei hohen Frequenzen reproduzierbare Messergebnisse unter definierten Bedingungen. Die typische Messzeit von 0,5 ms erlaubt schnelle Frequenzdurchläufe, ohne die Messstabilität zu beeinträchtigen. Prüfsignalpegel von −40,0 dBm bis +1,0 dBm ermöglichen eine anwendungsgerechte Anregung der Prüflinge. Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-, Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LANund EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen optional zur Verfügung. Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7587 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit fünf repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf Basis der Messdaten. Neben LCR-Modellen mit drei Elementen steht auch ein Modell mit vier Elementen zur Analyse piezoelektrischer Bauteile zur Verfügung. Diese Modellvielfalt ermöglicht Anwendungen von der allgemeinen Bauteilcharakterisierung bis zur Resonatorbewertung.Testkopf und Testvorrichtungen Der IM7587 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Positionierung des Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenzmessungen sonst beeinflussen würden. Dieses Design unterstützt stabile und reproduzierbare Messergebnisse bis 3 GHz und reduziert zugleich den Platzbedarf auf dem Labortisch in HF-Umgebungen. Für die Messung von SMD-Bauteilen wird der IM7587 typischerweise in Kombination mit der IM9201 SMD-Testvorrichtung verwendet. Das IM9201 ist für sechs gängige SMDGehäusegrößen von 0201 bis 1210 ausgelegt und stellt eine stabile zweipolige Kontaktierung an der Unterseite der Bauteile bereit. Die Kontaktgeometrie ist für Messungen über den gesamten Messfrequenzbereich ausgelegt. Die Positionierung erfolgt auf definierten Kontaktflächen mit Anschlag- und Schiebemechanismus, wodurch eine korrekte Ausrichtung und reproduzierbare Platzierung sichergestellt wird. Dies reduziert die Messstreuung und ermöglicht die präzise Charakterisierung von SMD-HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen und Filtern. Für eine stabile Montage wird die IM9201 Testvorrichtung auf dem IM9200 Standfuß befestigt. Der Standfuß sorgt für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische Ausrichtung zwischen Testkopf und Testvorrichtung und enthält eine Lupe zur erleichterten Handhabung kleiner Bauteile. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mmAnschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert.Kalibrierung und Messintegrität Das optionale IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur Korrektur systembedingter Messabweichungen bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis 3 GHz bereit. Die Kalibrierung kompensiert parasitäre Effekte im Messpfad bis zur definierten Referenzebene, einschließlich des Testkopfs des Impedanzanalysators und der verbindenden Schnittstellen. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über denselben IM9906 Adapter, der auch für Testvorrichtungen verwendet wird. Der IM7587 verfügt über umfassende Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCRPrüfung, Hi-Z-Erkennung sowie eine Überprüfung der Messsignalform. Die Kontaktprüfung kann vor und nach der Messung durchgeführt werden und dient der rechtzeitigen Erkennung fehlerhafter Kontaktierungen sowie der Vermeidung ungültiger Messergebnisse. In Japan entwickelt und gefertigt, ist der IM7587 auf eine dauerhaft stabile Messperformance in Messund Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an Langzeitstabilität ausgelegt.

Technische Eckdaten  Messfrequenz: 1 MHz bis 600 MHzTypische analoge Messzeit: 0,5 msGrundgenauigkeit: ±0,65 % (Z, Messwert), ±0,38° (Phase) Typische Wiederholgenauigkeit: ca. ±0,07 % (z. B. 1 nH bei 3 GHz) Prüfsignalpegel: −40,0 dBm bis +1,0 dBm Typische AnwendungenCharakterisierung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren Frequenzabhängige Impedanzanalyse zur Bauteilbewertung und Schaltungsentwicklung Resonanz- und Peak-Analyse von HF-Bauteilen über Frequenzsweeps Comparator- und BIN-basierte Gut-Schlecht-Prüfung hochfrequenter Komponenten in Forschung, Entwicklung und produktionsnahen Umgebungen  Modelle im Vergleich Modell Messfrequenz Prüfsignalpegel IM7587 1 MHz bis 3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7585 1 MHz bis 1,3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7583 1 MHz bis 600 MHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7581 100 kHz bis 300 MHz −40,0 dBm bis +7,0 dBm Detaillierte ProduktübersichtDie Analyse von HF-Bauteilen in verschiedensten elektronischen Anwendungen erfordert regelmäßig Impedanzmessungen bis in den Bereich mehrerer hundert Megahertz. Mit einem Messfrequenzbereich von 1 MHz bis 600 MHz eignet sich der IM7583 für die Charakterisierung von Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren im HF-Schaltungsdesign. Messleistung und Analysefunktionen Eine hohe Messgenauigkeit von ±0,65% für die Impedanz und ±0,38° für die Phase gewährleistet eine zuverlässige Impedanzbewertung über den gesamten Frequenzbereich. Eine typische Wiederholgenauigkeit von ca. ±0,07% ermöglicht reproduzierbare Messergebnisse unter definierten Messbedingungen. Schnelle Frequenzsweeps werden durch eine typische Messzeit von 0,5 ms unterstützt, während Prüfsignalpegel von −40,0 dBm bis +1,0 dBm eine kontrollierte Anregung des Prüflings erlauben. Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-, Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LANund EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen optional zur Verfügung. Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7583 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit mehreren repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf Basis der Messdaten. Die verfügbaren Modelle unterstützen eine impedanzbasierte Bewertung von HF-Bauteilen und ermöglichen eine systematische Charakterisierung über Frequenzsweeps hinweg. Testkopf und Testvorrichtungen Der IM7583 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Positionierung des Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenz-Impedanzmessungen sonst beeinflussen würden. Dieses Design unterstützt stabile und reproduzierbare Messergebnisse und reduziert zugleich den Platzbedarf auf dem Labortisch. Für die Messung von Bauteilen mit unterschiedlichen Gehäuseformen wird der IM7583 typischerweise in Kombination mit der IM9202 Testvorrichtung verwendet. Die IM9202 unterstützt Impedanzmessungen bis 600 MHz und ist für oberflächenmontierte sowie bedrahtete Bauteile ausgelegt. Eine definierte Kontaktgeometrie gewährleistet eine reproduzierbare Platzierung des Prüflings sowie einen zuverlässigen elektrischen Kontakt. Dies reduziert die Messstreuung und ermöglicht eine präzise Charakterisierung von HF-Bauteilen. Für reine SMD-Messungen kann der IM7583 alternativ auch mit der IM9201 SMDTestvorrichtung verwendet werden. Für eine stabile Montage wird die jeweilige Testvorrichtung auf dem Standfuß IM9200 montiert, das für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische Verbindung zwischen Testkopf und Testvorrichtung sorgt und eine Lupe zur erleichterten Handhabung kleiner Bauteile enthält. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mm-Anschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert. Kalibrierung und Messintegrität Das optionale IM9905 Kalibrierkit umfasst OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur Reduzierung systembedingter Messabweichungen bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis 3 GHz. Die Kalibrierung wirkt auf den Messpfad bis zur definierten Referenzebene und schließt den Testkopf des Impedanzanalysators sowie die zugehörigen Schnittstellen ein. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über den IM9906 Adapter, der ebenfalls für Testvorrichtungen verwendet wird. Integrierte Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCR-Prüfung, Hi-Z-Erkennung und die Überprüfung der Messsignalform, dienen der Beurteilung der Kontaktqualität vor und bei Bedarf nach der Messung. Dadurch wird das Risiko ungültiger Messergebnisse infolge unzureichender Kontaktierung oder instabiler Bauteilplatzierung reduziert. In Japan entwickelt und gefertigt, ist der IM7583 für einen zuverlässigen Langzeitbetrieb in Mess- und Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an die Messstabilität ausgelegt.

Technische Eckdaten Messfrequenz: 100 kHz bis 300 MHz Typische analoge Messzeit: 0,5 ms Grundgenauigkeit: ±0,72 % (Z, Messwert), ±0,41° (Phase) Typische Wiederholgenauigkeit: ca. ±0,07 % (z. B. 1 nH bei 3 GHz) Prüfsignalpegel: −40,0 dBm bis +7,0 dBm Typische Anwendungen Charakterisierung von Leistungsinduktivitäten, Gleichtaktfiltern und Ferritbauteilen Frequenzabhängige Impedanzanalyse von Bauteilen in der Leistungselektronik und zur Unterdrückung von Störeinflüssen Resonanz- und Peak-Analyse induktiver und filternder Strukturen Comparator- und BIN-basierte Gut-Schlecht-Prüfung von HF-Komponenten in Forschung, Entwicklung und produktionsnahen Umgebungen Modelle im Vergleich Modell Messfrequenz Prüfsignalpegel IM7587 1 MHz bis 3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7585 1 MHz bis 1,3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7583 1 MHz bis 600 MHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7581 100 kHz bis 300 MHz −40,0 dBm bis +7,0 dBm Detaillierte Produktübersicht Impedanzmessungen bis 300 MHz unterstützen die Analyse von HF-Komponenten, wie sie beispielsweise in der Leistungselektronik und bei der Unterdrückung von Störeinflüssen eingesetzt werden. Mit einem Messfrequenzbereich von 100 kHz bis 300 MHz eignet sich der IM7581 für die Charakterisierung von Leistungsinduktivitäten, Gleichtaktfiltern, Ferritbauteilen und filternden Strukturen. Messleistung und Analysefunktionen Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,72 % der Impedanz und ±0,41° der Phase ist der IM7581 für präzise Impedanzmessungen bis 300 MHz ausgelegt. Prüfsignalpegel von −40,0 dBm bis +7,0 dBm ermöglichen eine höhere Anregung des Prüflings. Eine typische Wiederholgenauigkeit von ca. ±0,07 % erlaubt reproduzierbare Messergebnisse über den gesamten Messfrequenzbereich. Die typische Messzeit von 0,5 ms erlaubt schnelle Frequenzdurchläufe, ohne die Messstabilität zu beeinträchtigen. Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-, Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LAN- und EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen optional zur Verfügung. Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7581 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf Basis der Messdaten. Dies unterstützt die Impedanz- und Resonanzbewertung von Bauteilen innerhalb des spezifizierten Frequenzbereichs. Testkopf und Testvorrichtungen Der IM7581 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Platzierung des Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenzmessungen sonst beeinflussen würden. Dieses Design ermöglicht stabile und reproduzierbare Messergebnisse bis 300 MHz und reduziert zugleich den Platzbedarf in hochfrequenten Messumgebungen. Für die Messung von Bauteilen mit unterschiedlichen Gehäuseformen wird der IM7581 typischerweise in Kombination mit der IM9202 Testvorrichtung verwendet. Die IM9202 ist für Impedanzmessungen bis 600 MHz ausgelegt und unterstützt sowohl oberflächenmontierte als auch bedrahtete Bauteile mit einer stabilen zweipoligen Kontaktierung. Für eine stabile Montage wird die IM9202 Testvorrichtung auf dem Standfuß IM9200 montiert. Der Standfuß sorgt für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische Verbindung zwischen Testkopf und Testvorrichtung und enthält eine Lupe zur erleichterten Handhabung kleiner Bauteile. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mm-Anschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert. Kalibrierung und Messintegrität Mit dem optionalen IM9905 Kalibrierkit stehen OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur Verfügung, um systembedingte Messfehler bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis 3 GHz zu korrigieren. Die Kalibrierung berücksichtigt parasitäre Einflüsse im Messpfad bis zur festgelegten Referenzebene, einschließlich des Testkopfs des Impedanzanalysators und der angeschlossenen Schnittstellen. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über den IM9906 Adapter, der auch für Testvorrichtungen genutzt wird. Integrierte Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCR-Prüfung, Hi-Z-Erkennung und die Überprüfung der Messsignalform, dienen der Beurteilung der Kontaktqualität vor und bei Bedarf nach der Messung. Dadurch wird das Risiko ungültiger Messergebnisse infolge unzureichender Kontaktierung oder instabiler Bauteilplatzierung reduziert. In Japan entwickelt und gefertigt, ist der IM7581 für einen zuverlässigen Langzeitbetrieb in Mess- und Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an die Messstabilität ausgelegt.