IM7587 - Hochfrequenz Impedanzanalysator, 1 MHz bis 3 GHz
Produktnummer:
IM7587-01
EAN:
4536036010592
Länge:
215 mm
Breite:
348 mm
Höhe:
200 mm
Gewicht:
8 kg
Produktinformationen IM7587 - Hochfrequenz Impedanzanalysator, 1 MHz bis 3 GHz
Technische Eckdaten
- Messfrequenz: 1 MHz bis 3 GHz
- Typische analoge Messzeit: 0,5 ms
- Grundgenauigkeit: ±0,65 % (Z, Messwert), ±0,38° (Phase)
- Typische Wiederholgenauigkeit: ca. ±0,07 % (z. B. 1 nH bei 3 GHz)
- Prüfsignalpegel: −40,0 dBm bis +1,0 dBm
Typische Anwendungen
- Charakterisierung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren in Forschung und Entwicklung
- Impedanzanalyse über Frequenzsweeps zur Bauteilbewertung und Designoptimierung
- Resonanzanalyse piezoelektrischer Bauteile
- Automatisierte Gut-Schlecht-Bewertung hochfrequenter Komponenten in Labor- und produktionsnahen Umgebungen
Modelle im Vergleich
| Modell | Messfrequenz | Prüfsignalpegel |
|---|---|---|
| IM7587 | 1 MHz bis 3 GHz | −40,0 dBm bis +1,0 dBm |
| IM7585 | 1 MHz bis 1,3 GHz | −40,0 dBm bis +1,0 dBm |
| IM7583 | 1 MHz bis 600 MHz | −40,0 dBm bis +1,0 dBm |
| IM7581 | 100 kHz bis 300 MHz | −40,0 dBm bis +7,0 dBm |
Detaillierte Produktübersicht
Impedanzmessungen bis 3 GHz ermöglichen die Analyse von HF-Bauteilen, etwa für drahtlose Kommunikationsanwendungen. Mit einem Messfrequenzbereich von 1 MHz bis 3 GHz eignet sich der IM7587 unter anderem für die Charakterisierung von Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern, Resonatoren und Anpassnetzwerken im HF-Schaltungsdesign.Messleistung und Analysefunktionen
Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,65% der Impedanz und ±0,38° der Phase ist der IM7587 für präzise Impedanzmessungen bis 3 GHz ausgelegt. Eine typische Wiederholgenauigkeit von ca. ±0,07% ermöglicht auch bei hohen Frequenzen reproduzierbare Messergebnisse unter definierten Bedingungen. Die typische Messzeit von 0,5 ms erlaubt schnelle Frequenzdurchläufe, ohne die Messstabilität zu beeinträchtigen. Prüfsignalpegel von −40,0 dBm bis +1,0 dBm ermöglichen eine anwendungsgerechte Anregung der Prüflinge.Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen
Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-,
Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen
werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LANund EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen
optional zur Verfügung.
Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7587 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit
fünf repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf
Basis der Messdaten. Neben LCR-Modellen mit drei Elementen steht auch ein Modell mit
vier Elementen zur Analyse piezoelektrischer Bauteile zur Verfügung. Diese Modellvielfalt
ermöglicht Anwendungen von der allgemeinen Bauteilcharakterisierung bis zur
Resonatorbewertung.
Testkopf und Testvorrichtungen
Der IM7587 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Positionierung des Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenzmessungen sonst beeinflussen würden. Dieses Design unterstützt stabile und reproduzierbare Messergebnisse bis 3 GHz und reduziert zugleich den Platzbedarf auf dem Labortisch in HF-Umgebungen.Für die Messung von SMD-Bauteilen wird der IM7587 typischerweise in Kombination mit der
IM9201 SMD-Testvorrichtung verwendet. Das IM9201 ist für sechs gängige SMDGehäusegrößen von 0201 bis 1210 ausgelegt und stellt eine stabile zweipolige
Kontaktierung an der Unterseite der Bauteile bereit. Die Kontaktgeometrie ist für Messungen
über den gesamten Messfrequenzbereich ausgelegt. Die Positionierung erfolgt auf
definierten Kontaktflächen mit Anschlag- und Schiebemechanismus, wodurch eine korrekte
Ausrichtung und reproduzierbare Platzierung sichergestellt wird. Dies reduziert die
Messstreuung und ermöglicht die präzise Charakterisierung von SMD-HF-Bauteilen wie
Chipinduktivitäten, Ferritperlen und Filtern.
Für eine stabile Montage wird die IM9201 Testvorrichtung auf dem IM9200 Standfuß
befestigt. Der Standfuß sorgt für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische
Ausrichtung zwischen Testkopf und Testvorrichtung und enthält eine Lupe zur erleichterten
Handhabung kleiner Bauteile. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den
Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mmAnschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert.
Kalibrierung und Messintegrität
Das optionale IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur Korrektur systembedingter Messabweichungen bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis 3 GHz bereit. Die Kalibrierung kompensiert parasitäre Effekte im Messpfad bis zur definierten Referenzebene, einschließlich des Testkopfs des Impedanzanalysators und der verbindenden Schnittstellen. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über denselben IM9906 Adapter, der auch für Testvorrichtungen verwendet wird.Der IM7587 verfügt über umfassende Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCRPrüfung, Hi-Z-Erkennung sowie eine Überprüfung der Messsignalform. Die Kontaktprüfung
kann vor und nach der Messung durchgeführt werden und dient der rechtzeitigen Erkennung
fehlerhafter Kontaktierungen sowie der Vermeidung ungültiger Messergebnisse. In Japan
entwickelt und gefertigt, ist der IM7587 auf eine dauerhaft stabile Messperformance in Messund Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an Langzeitstabilität ausgelegt.