HIOKI IM9902 - KONTAKT-TIPPS

HIOKI IM3536 Tisch-LCR-Messgerät für hochpräzise Messungen von Impedanz, Induktivität und Kapazität im Bereich 4 Hz bis 8 MHz – ideal für Labor und Produktion. Jetzt im HIOKI Shop bestellen.

Optionale HIOKI RS232c-Schnittstellenkarte zum Einbau in die Impedanz-Messgeräte HIOKI IM3523, IM3533, IM3533-01, IM3590, IM7580A, IM7581, IM7583, IM7585, IM7587.

HIOKI IM3570 Impedanzanalysator für hochpräzise Messungen von Impedanz, Induktivität und Kapazität im Bereich 4 Hz bis 5 MHz – ideal für Labor, Entwicklung und Produktion. Jetzt im HIOKI Shop bestellen.

Der IM3590 Chemical Impedance Analyzer wurde für präzise Messungen von elektrochemischen Komponenten und Materialien wie Batterien und Doppelschichtkondensatoren (EDLCs) entwickelt.

Das IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Standards für die Kalibrierung von HIOKI Impedanzanalysatoren mit zweipoligem Messbetrieb an der 7-mm-Referenzebene (APC-7) bereit. Die Kalibrierstandards dienen zur Korrektur systembedingter Messabweichungen im Messpfad bis zu dieser Referenzebene. Für die Kalibrierung von Impedanzmesssystemen wird die in der Hochfrequenzmetrologie übliche 7-mm-Referenzebene (APC-7) verwendet. Wird die Kalibrierung an Messsystemen mit einem 3,5-mm-Testkopf durchgeführt, wie er bei den HIOKI Impedanzanalysatoren IM7587, IM7585, IM7583 oder IM7581 verwendet wird, so ist ein geeigneter Adapter erforderlich, um die 7-mm-Referenzebene herzustellen. Der hierfür von HIOKI vorgesehene Adapter ist der IM9906.

Der IM9906 Adapter verfügt über eine 7-mm-(APC-7)-Schnittstelle auf der einen Seite und einen 3,5-mm-Stecker auf der anderen Seite. Er dient zum Anschluss von 7-mmKalibrierstandards oder Testvorrichtungen an Messsysteme mit 3,5-mm-Testkopf, einschließlich HIOKI Impedanzanalysatoren wie IM7587, IM7585, IM7583 und IM7581. Die 7-mm-(APC-7)-Schnittstelle wird in der Hochfrequenzmetrologie typischerweise für Kalibrierstandards und Impedanz-Testvorrichtungen eingesetzt. Die 3,5-mm-Schnittstelle ist ein Präzisions-Koaxialanschluss für HF- und Impedanzmessungen und ist mechanisch kompatibel mit SMA-Anschlüssen, unterscheidet sich jedoch im Aufbau durch ein Luftdielektrikum anstelle eines festen Dielektrikums

Technische EckdatenMessfrequenz: 1 MHz bis 3 GHzTypische analoge Messzeit: 0,5 ms Grundgenauigkeit: ±0,65 % (Z, Messwert), ±0,38° (Phase) Typische Wiederholgenauigkeit: ca. ±0,07 % (z. B. 1 nH bei 3 GHz) Prüfsignalpegel: −40,0 dBm bis +1,0 dBm Typische AnwendungenCharakterisierung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren in Forschung und EntwicklungImpedanzanalyse über Frequenzsweeps zur Bauteilbewertung und Designoptimierung Resonanzanalyse piezoelektrischer Bauteile Automatisierte Gut-Schlecht-Bewertung hochfrequenter Komponenten in Labor- und produktionsnahen Umgebungen  Modelle im Vergleich Modell Messfrequenz Prüfsignalpegel IM7587 1 MHz bis 3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7585 1 MHz bis 1,3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7583 1 MHz bis 600 MHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7581 100 kHz bis 300 MHz −40,0 dBm bis +7,0 dBm Detaillierte ProduktübersichtImpedanzmessungen bis 3 GHz ermöglichen die Analyse von HF-Bauteilen, etwa für drahtlose Kommunikationsanwendungen. Mit einem Messfrequenzbereich von 1 MHz bis 3 GHz eignet sich der IM7587 unter anderem für die Charakterisierung von Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern, Resonatoren und Anpassnetzwerken im HF-Schaltungsdesign. Messleistung und Analysefunktionen Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,65% der Impedanz und ±0,38° der Phase ist der IM7587 für präzise Impedanzmessungen bis 3 GHz ausgelegt. Eine typische Wiederholgenauigkeit von ca. ±0,07% ermöglicht auch bei hohen Frequenzen reproduzierbare Messergebnisse unter definierten Bedingungen. Die typische Messzeit von 0,5 ms erlaubt schnelle Frequenzdurchläufe, ohne die Messstabilität zu beeinträchtigen. Prüfsignalpegel von −40,0 dBm bis +1,0 dBm ermöglichen eine anwendungsgerechte Anregung der Prüflinge. Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-, Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LANund EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen optional zur Verfügung. Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7587 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit fünf repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf Basis der Messdaten. Neben LCR-Modellen mit drei Elementen steht auch ein Modell mit vier Elementen zur Analyse piezoelektrischer Bauteile zur Verfügung. Diese Modellvielfalt ermöglicht Anwendungen von der allgemeinen Bauteilcharakterisierung bis zur Resonatorbewertung.Testkopf und Testvorrichtungen Der IM7587 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Positionierung des Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenzmessungen sonst beeinflussen würden. Dieses Design unterstützt stabile und reproduzierbare Messergebnisse bis 3 GHz und reduziert zugleich den Platzbedarf auf dem Labortisch in HF-Umgebungen. Für die Messung von SMD-Bauteilen wird der IM7587 typischerweise in Kombination mit der IM9201 SMD-Testvorrichtung verwendet. Das IM9201 ist für sechs gängige SMDGehäusegrößen von 0201 bis 1210 ausgelegt und stellt eine stabile zweipolige Kontaktierung an der Unterseite der Bauteile bereit. Die Kontaktgeometrie ist für Messungen über den gesamten Messfrequenzbereich ausgelegt. Die Positionierung erfolgt auf definierten Kontaktflächen mit Anschlag- und Schiebemechanismus, wodurch eine korrekte Ausrichtung und reproduzierbare Platzierung sichergestellt wird. Dies reduziert die Messstreuung und ermöglicht die präzise Charakterisierung von SMD-HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen und Filtern. Für eine stabile Montage wird die IM9201 Testvorrichtung auf dem IM9200 Standfuß befestigt. Der Standfuß sorgt für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische Ausrichtung zwischen Testkopf und Testvorrichtung und enthält eine Lupe zur erleichterten Handhabung kleiner Bauteile. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mmAnschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert.Kalibrierung und Messintegrität Das optionale IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur Korrektur systembedingter Messabweichungen bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis 3 GHz bereit. Die Kalibrierung kompensiert parasitäre Effekte im Messpfad bis zur definierten Referenzebene, einschließlich des Testkopfs des Impedanzanalysators und der verbindenden Schnittstellen. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über denselben IM9906 Adapter, der auch für Testvorrichtungen verwendet wird. Der IM7587 verfügt über umfassende Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCRPrüfung, Hi-Z-Erkennung sowie eine Überprüfung der Messsignalform. Die Kontaktprüfung kann vor und nach der Messung durchgeführt werden und dient der rechtzeitigen Erkennung fehlerhafter Kontaktierungen sowie der Vermeidung ungültiger Messergebnisse. In Japan entwickelt und gefertigt, ist der IM7587 auf eine dauerhaft stabile Messperformance in Messund Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an Langzeitstabilität ausgelegt.