Die LCR-Messgeräte und Impedanz-Analysatoren von HIOKI decken ein breites Anwendungsspektrum in Forschung & Entwicklung, Produktion und Qualitätssicherung ab, von elektrochemischer Impedanzspektroskopie (EIS) über Messungen an Kondensatoren, Induktivitäten und Transformatoren bis hin zu SMD-Bauteiltests bei HF-Frequenzen.
Kurze Messzeiten, Sweep-Funktionen sowie Comparator- und BIN-Funktionen unterstützen sowohl den Laboreinsatz als auch automatisierte Produktionsumgebungen, wobei alle Instrumente in Japan entwickelt und gefertigt werden.
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LCR-Messgerät mit integriertem Frequenz-Sweep, DC und 1 mHz bis 200 kHz, Messgeschwindigkeit 2 ms, Grundgenauigkeit ±0,05%, Transformatormodus, DC-Widerstand, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB
LCR-Messgerät, DC und 1 mHz bis 200 kHz, Messgeschwindigkeit 2 ms, Grundgenauigkeit ±0,05%, Transformatormodus, hochgenaue Messung niedriger Impedanzen, DC-Widerstand, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB
Chemischer Impedanz-Analysator, 1 mHz bis 200 kHz, Batteriemodus mit automatischem DC-Bias bis 5 V, Frequenz-Sweep und Ersatzschaltbildanalyse, Grundgenauigkeit ±0,05 %, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB
Technische EckdatenFrequenzbereich: 4 Hz bis 5 MHz Ersatzschaltbildanalyse: 5 SchaltmodelleGrundgenauigkeit: Z: ±0,08 %, θ: ±0,05° Garantierter Genauigkeitsbereich: 1 mΩ bis 200 MΩPrüfsignalpegel: 5 mV bis 5 V, 10 µA bis 100 mA Typische AnwendungenDetaillierte Impedanz- und Frequenzganganalyse von Kondensatoren, Induktivitäten
und Widerständen in Forschung und Entwicklung Charakterisierung piezoelektrischer Bauelemente und Resonanzschaltungen mithilfe
von Ersatzschaltmodellen Bewertung elektrochemischer und dielektrischer Eigenschaften anhand von Nyquistund Admittanzdiagrammen Untersuchung des Materialverhaltens und komplexer Impedanzen unter variierenden
Prüfsignalbedingungen
Detaillierte Produktübersicht
Der HIOKI IM3570-9000 vereint die Präzision eines LCR-Messgeräts mit den erweiterten
Analysefunktionen eines Impedanz-Analysators. Eine integrierte Ersatzschaltbildanalyse und
ein Frequenzbereich von 4 Hz bis 5 MHz ermöglichen die detaillierte Bewertung von
Bauelementen und Materialien mit frequenzabhängiger Impedanz. Mit Messzeiten von bis zu
0,5 ms bei 100 kHz, einer Grundgenauigkeit von ±0,08 % für den Betrag der Impedanz,
±0,05° für die Phase und garantierter Genauigkeit von 1 mΩ bis 200 MΩ bietet der IM3570-
9000 präzise und verlässliche Messergebnisse über einen weiten Impedanzbereich. Vielseitig und einfach zu bedienenDer IM3570-9000 bietet mehrere Messmodi, darunter einen LCR-Modus zur gleichzeitigen
Messung des Gleichstromwiderstands sowie Sweep- und Dauermessfunktionen. Vergleichsund BIN-Bewertung erleichtern automatisierte Gut/Schlecht-Prüfungen, während Frequenzund Pegel-Sweeps zur Analyse von Filtern, Resonanzschaltungen oder piezoelektrischen Bauelementen genutzt werden können. Das 5,7″ große Farb-Touchdisplay ermöglicht eine
intuitive Bedienung und einfache Anpassung der Messbedingungen. Über USB, LAN, RS232C, GP-IB und Handler I/O lässt sich das Gerät problemlos in bestehende Prüfsysteme
integrieren.Integrierte ErsatzschaltbildanalyseDer IM3570-9000 verfügt über eine integrierte Ersatzschaltbildanalyse zur detaillierten
Bewertung komplexer Impedanzeigenschaften. Die Firmware umfasst fünf repräsentative
Schaltmodelle und kann auf Basis der Messdaten automatisch das am besten geeignete
Modell auswählen. Neben den grundlegenden RLC-Dreielementmodellen wird auch ein VierElement-Modell unterstützt, das speziell für die Analyse piezoelektrischer Bauelemente
optimiert ist. Das Gerät kann Ortskurven (Nyquist-Diagramme) und Admittanzdiagramme
direkt darstellen und liefert damit wertvolle Einblicke in frequenzabhängiges Verhalten und
Materialeigenschaften.Prüfvorrichtungen für jede AnwendungEine große Auswahl an Testadaptern ermöglicht stabile und reproduzierbare
Messverbindungen für unterschiedlichste Prüflinge. Dazu zählen Kelvin-Klemmen für
Standardkomponenten, Vorrichtungen zum direkten Anschluss von bedrahteten Bauteilen
sowie Testspitzen für SMD-Bauteile. Diese Vielfalt an Zubehör macht den IM3570-9000 zu
einem vielseitigen Messinstrument im Entwicklungslabor wie auch in automatisierten
Fertigungslinien.Entwickelt und gefertigt in Japan, steht der IM3570-9000 für die hohe Zuverlässigkeit und
Langzeitstabilität, für die HIOKI seit Jahrzehnten bekannt ist. Seine Kombination aus
Präzision, Bedienkomfort und robuster Bauweise macht ihn zu einer langfristig verlässlichen
Lösung für Forschung, Entwicklung und Produktion.
Impedanzanalysator, 100 kHz bis 300 MHz, Grundgenauigkeit ±0,72% Z und ±0,41° Phase,
typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07%, typische Messzeit 0,5 ms, Comparator- und BINFunktionen, USB, LAN, EXT-I/O, optional RS-232C oder GP-IB
Impedanzanalysator, 1 MHz bis 3 GHz, Grundgenauigkeit ±0,65% Z und ±0,38° Phase, typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07%, typische Messzeit 0,5 ms, Comparator- und BIN-Funktionen, USB, LAN, EXT-I/O, optional RS-232C oder GP-IB
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.jpg "HIOKI IM3533-01 - LCR-Messgerät mit Frequenz-Sweep, DC und 1 mHz bis 200 kHz")
