HIOKI LCR-Meter und Impedanzanalysatoren

LCR-Messgerät, 4 Hz bis 8 MHz, Geschwindigkeit 1 ms, Grundgenauigkeit ±0,05 % Impedanz und ±0,03° Phase, garantierte Genauigkeit 1 mΩ bis 200 MΩ, Comparator- und BIN-Funktion, DC-Bias, USB, LAN, RS-232C, GP-IB, BCD, Handler-I/O.

LCR-Messgerät, 40 Hz bis 200 kHz, Messgeschwindigkeit 2 ms, Grundgenauigkeit ±0,08%, Dauermessbetrieb, Comparator- und BIN-Funktion, DC-Widerstand, USB, LAN und Handler I/O

LCR-Messgerät mit integriertem Frequenz-Sweep, DC und 1 mHz bis 200 kHz, Messgeschwindigkeit 2 ms, Grundgenauigkeit ±0,05%, Transformatormodus, DC-Widerstand, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB

Impedanz-Analysator und LCR-Messgerät in einem, 4 Hz bis 5 MHz, Geschwindigkeit 0,5 ms, Grundgenauigkeit Z: ±0,08 %, θ: ±0,05°, garantierte Genauigkeit ab 1 mΩ, Vergleichsund BIN-Funktion, Schnittstellen: USB, LAN, RS-232C, GP-IB, Handler I/O

LCR-Messgerät, DC und 1 mHz bis 200 kHz, Messgeschwindigkeit 2 ms, Grundgenauigkeit ±0,05%, Transformatormodus, hochgenaue Messung niedriger Impedanzen, DC-Widerstand, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB

Chemischer Impedanz-Analysator, 1 mHz bis 200 kHz, Batteriemodus mit automatischem DC-Bias bis 5 V, Frequenz-Sweep und Ersatzschaltbildanalyse, Grundgenauigkeit ±0,05 %, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB

Technische EckdatenFrequenzbereich: 4 Hz bis 5 MHz Ersatzschaltbildanalyse: 5 SchaltmodelleGrundgenauigkeit: Z: ±0,08 %, θ: ±0,05° Garantierter Genauigkeitsbereich: 1 mΩ bis 200 MΩPrüfsignalpegel: 5 mV bis 5 V, 10 µA bis 100 mA Typische AnwendungenDetaillierte Impedanz- und Frequenzganganalyse von Kondensatoren, Induktivitäten und Widerständen in Forschung und Entwicklung Charakterisierung piezoelektrischer Bauelemente und Resonanzschaltungen mithilfe von Ersatzschaltmodellen Bewertung elektrochemischer und dielektrischer Eigenschaften anhand von Nyquistund Admittanzdiagrammen Untersuchung des Materialverhaltens und komplexer Impedanzen unter variierenden Prüfsignalbedingungen  Detaillierte Produktübersicht Der HIOKI IM3570-9000 vereint die Präzision eines LCR-Messgeräts mit den erweiterten Analysefunktionen eines Impedanz-Analysators. Eine integrierte Ersatzschaltbildanalyse und ein Frequenzbereich von 4 Hz bis 5 MHz ermöglichen die detaillierte Bewertung von Bauelementen und Materialien mit frequenzabhängiger Impedanz. Mit Messzeiten von bis zu 0,5 ms bei 100 kHz, einer Grundgenauigkeit von ±0,08 % für den Betrag der Impedanz, ±0,05° für die Phase und garantierter Genauigkeit von 1 mΩ bis 200 MΩ bietet der IM3570- 9000 präzise und verlässliche Messergebnisse über einen weiten Impedanzbereich. Vielseitig und einfach zu bedienenDer IM3570-9000 bietet mehrere Messmodi, darunter einen LCR-Modus zur gleichzeitigen Messung des Gleichstromwiderstands sowie Sweep- und Dauermessfunktionen. Vergleichsund BIN-Bewertung erleichtern automatisierte Gut/Schlecht-Prüfungen, während Frequenzund Pegel-Sweeps zur Analyse von Filtern, Resonanzschaltungen oder piezoelektrischen Bauelementen genutzt werden können. Das 5,7″ große Farb-Touchdisplay ermöglicht eine intuitive Bedienung und einfache Anpassung der Messbedingungen. Über USB, LAN, RS232C, GP-IB und Handler I/O lässt sich das Gerät problemlos in bestehende Prüfsysteme integrieren.Integrierte ErsatzschaltbildanalyseDer IM3570-9000 verfügt über eine integrierte Ersatzschaltbildanalyse zur detaillierten Bewertung komplexer Impedanzeigenschaften. Die Firmware umfasst fünf repräsentative Schaltmodelle und kann auf Basis der Messdaten automatisch das am besten geeignete Modell auswählen. Neben den grundlegenden RLC-Dreielementmodellen wird auch ein VierElement-Modell unterstützt, das speziell für die Analyse piezoelektrischer Bauelemente optimiert ist. Das Gerät kann Ortskurven (Nyquist-Diagramme) und Admittanzdiagramme direkt darstellen und liefert damit wertvolle Einblicke in frequenzabhängiges Verhalten und Materialeigenschaften.Prüfvorrichtungen für jede AnwendungEine große Auswahl an Testadaptern ermöglicht stabile und reproduzierbare Messverbindungen für unterschiedlichste Prüflinge. Dazu zählen Kelvin-Klemmen für Standardkomponenten, Vorrichtungen zum direkten Anschluss von bedrahteten Bauteilen sowie Testspitzen für SMD-Bauteile. Diese Vielfalt an Zubehör macht den IM3570-9000 zu einem vielseitigen Messinstrument im Entwicklungslabor wie auch in automatisierten Fertigungslinien.Entwickelt und gefertigt in Japan, steht der IM3570-9000 für die hohe Zuverlässigkeit und Langzeitstabilität, für die HIOKI seit Jahrzehnten bekannt ist. Seine Kombination aus Präzision, Bedienkomfort und robuster Bauweise macht ihn zu einer langfristig verlässlichen Lösung für Forschung, Entwicklung und Produktion.

Impedanzanalysator, 100 kHz bis 300 MHz, Grundgenauigkeit ±0,72% Z und ±0,41° Phase, typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07%, typische Messzeit 0,5 ms, Comparator- und BINFunktionen, USB, LAN, EXT-I/O, optional RS-232C oder GP-IB

Kalibrierkit mit OPEN-, SHORT- und LOAD-Standards für die 7-mm-Referenzebene (APC-7)

SMD-Testvorrichtung für Impedanzmessungen von EIA0201 bis EIA1210, sechs unterstützte SMD-Bauteilgrößen, zweipolige Messung, 7-mm-Schnittstelle

Standfuß für IM9201 und IM9202 Impedanz-Testvorrichtungen, mit abnehmbarem Vergrößerungsglas

Impedanzanalysator, 1 MHz bis 3 GHz, Grundgenauigkeit ±0,65% Z und ±0,38° Phase, typische Wiederholgenauigkeit ca. ±0,07%, typische Messzeit 0,5 ms, Comparator- und BIN-Funktionen, USB, LAN, EXT-I/O, optional RS-232C oder GP-IB