HIOKI LCR-Meter und Impedanzanalysatoren

HIOKI IM3536 Tisch-LCR-Messgerät für hochpräzise Messungen von Impedanz, Induktivität und Kapazität im Bereich 4 Hz bis 8 MHz – ideal für Labor und Produktion. Jetzt im HIOKI Shop bestellen.

Bauteiltester (L, C, R) für Produktionslinien mit schneller Messzeit (2ms bei 1kHz), Messfrequenz von DC und 40Hz bis 200kHz mit einer Basisgenauigkeit von 0,05%.

Das IM3533-01 ist ein vielseitiges Desktop-LCR-Meter, das für präzise Tests in F&E- sowie Produktionsumgebungen entwickelt wurde.

HIOKI IM3570 Impedanzanalysator für hochpräzise Messungen von Impedanz, Induktivität und Kapazität im Bereich 4 Hz bis 5 MHz – ideal für Labor, Entwicklung und Produktion. Jetzt im HIOKI Shop bestellen.

LCR Messgerät zur Messung Induktivität (L), Kapazität (C) und Widerstand (R) von elektronischen Bauteilen mit nur 1 ms Messzeit in der Forschung und Entwicklung sowie bei der Produktion von Wickelgütern, Transformatoren und passiven Bauelementen.

Der IM3590 Chemical Impedance Analyzer wurde für präzise Messungen von elektrochemischen Komponenten und Materialien wie Batterien und Doppelschichtkondensatoren (EDLCs) entwickelt.

Technische EckdatenFrequenzbereich: 4 Hz bis 5 MHz Ersatzschaltbildanalyse: 5 SchaltmodelleGrundgenauigkeit: Z: ±0,08 %, θ: ±0,05° Garantierter Genauigkeitsbereich: 1 mΩ bis 200 MΩPrüfsignalpegel: 5 mV bis 5 V, 10 µA bis 100 mA Typische AnwendungenDetaillierte Impedanz- und Frequenzganganalyse von Kondensatoren, Induktivitäten und Widerständen in Forschung und Entwicklung Charakterisierung piezoelektrischer Bauelemente und Resonanzschaltungen mithilfe von Ersatzschaltmodellen Bewertung elektrochemischer und dielektrischer Eigenschaften anhand von Nyquistund Admittanzdiagrammen Untersuchung des Materialverhaltens und komplexer Impedanzen unter variierenden Prüfsignalbedingungen  Detaillierte Produktübersicht Der HIOKI IM3570-9000 vereint die Präzision eines LCR-Messgeräts mit den erweiterten Analysefunktionen eines Impedanz-Analysators. Eine integrierte Ersatzschaltbildanalyse und ein Frequenzbereich von 4 Hz bis 5 MHz ermöglichen die detaillierte Bewertung von Bauelementen und Materialien mit frequenzabhängiger Impedanz. Mit Messzeiten von bis zu 0,5 ms bei 100 kHz, einer Grundgenauigkeit von ±0,08 % für den Betrag der Impedanz, ±0,05° für die Phase und garantierter Genauigkeit von 1 mΩ bis 200 MΩ bietet der IM3570- 9000 präzise und verlässliche Messergebnisse über einen weiten Impedanzbereich. Vielseitig und einfach zu bedienenDer IM3570-9000 bietet mehrere Messmodi, darunter einen LCR-Modus zur gleichzeitigen Messung des Gleichstromwiderstands sowie Sweep- und Dauermessfunktionen. Vergleichsund BIN-Bewertung erleichtern automatisierte Gut/Schlecht-Prüfungen, während Frequenzund Pegel-Sweeps zur Analyse von Filtern, Resonanzschaltungen oder piezoelektrischen Bauelementen genutzt werden können. Das 5,7″ große Farb-Touchdisplay ermöglicht eine intuitive Bedienung und einfache Anpassung der Messbedingungen. Über USB, LAN, RS232C, GP-IB und Handler I/O lässt sich das Gerät problemlos in bestehende Prüfsysteme integrieren.Integrierte ErsatzschaltbildanalyseDer IM3570-9000 verfügt über eine integrierte Ersatzschaltbildanalyse zur detaillierten Bewertung komplexer Impedanzeigenschaften. Die Firmware umfasst fünf repräsentative Schaltmodelle und kann auf Basis der Messdaten automatisch das am besten geeignete Modell auswählen. Neben den grundlegenden RLC-Dreielementmodellen wird auch ein VierElement-Modell unterstützt, das speziell für die Analyse piezoelektrischer Bauelemente optimiert ist. Das Gerät kann Ortskurven (Nyquist-Diagramme) und Admittanzdiagramme direkt darstellen und liefert damit wertvolle Einblicke in frequenzabhängiges Verhalten und Materialeigenschaften.Prüfvorrichtungen für jede AnwendungEine große Auswahl an Testadaptern ermöglicht stabile und reproduzierbare Messverbindungen für unterschiedlichste Prüflinge. Dazu zählen Kelvin-Klemmen für Standardkomponenten, Vorrichtungen zum direkten Anschluss von bedrahteten Bauteilen sowie Testspitzen für SMD-Bauteile. Diese Vielfalt an Zubehör macht den IM3570-9000 zu einem vielseitigen Messinstrument im Entwicklungslabor wie auch in automatisierten Fertigungslinien.Entwickelt und gefertigt in Japan, steht der IM3570-9000 für die hohe Zuverlässigkeit und Langzeitstabilität, für die HIOKI seit Jahrzehnten bekannt ist. Seine Kombination aus Präzision, Bedienkomfort und robuster Bauweise macht ihn zu einer langfristig verlässlichen Lösung für Forschung, Entwicklung und Produktion.

HIOKI IM7581 HF-Impedanzanalysator für hochpräzise Messungen von HF-Komponenten im Bereich 100 kHz bis 300 MHz. Jetzt im HIOKI Shop bestellen.

Das IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Standards für die Kalibrierung von HIOKI Impedanzanalysatoren mit zweipoligem Messbetrieb an der 7-mm-Referenzebene (APC-7) bereit. Die Kalibrierstandards dienen zur Korrektur systembedingter Messabweichungen im Messpfad bis zu dieser Referenzebene. Für die Kalibrierung von Impedanzmesssystemen wird die in der Hochfrequenzmetrologie übliche 7-mm-Referenzebene (APC-7) verwendet. Wird die Kalibrierung an Messsystemen mit einem 3,5-mm-Testkopf durchgeführt, wie er bei den HIOKI Impedanzanalysatoren IM7587, IM7585, IM7583 oder IM7581 verwendet wird, so ist ein geeigneter Adapter erforderlich, um die 7-mm-Referenzebene herzustellen. Der hierfür von HIOKI vorgesehene Adapter ist der IM9906.

Die IM9201 SMD-Testvorrichtung ist für Impedanzmessungen an oberflächenmontierten Bauteilen (SMD) in Kombination mit HIOKI Impedanzanalysatoren ausgelegt, die eine zweipolige Messkonfiguration unterstützen. Sie unterstützt Messungen bis 3 GHz und ist für SMD-Bauteilgrößen von EIA0201 bis EIA1210 vorgesehen. Die Vorrichtung unterstützt Messungen bis 3 GHz und entspricht damit dem Frequenzbereich hochfrequenter Impedanzanalysatoren wie dem IM7587 und IM7585. Sie kann jedoch auch mit Impedanzanalysatoren mit geringerem maximalem Messfrequenzbereich, wie dem IM7583 oder IM7581, eingesetzt werden, wenn SMD-Bauteilgrößen unterhalb von EIA0603 vermessen werden müssen. Für einen stabilen Betrieb wird die IM9201 auf dem IM9200 Standfuß montiert, der eine sichere Auflage und eine definierte mechanische Ausrichtung zwischen dem Testkopf des Impedanzanalysators und der Testvorrichtung gewährleistet. Die Handhabung kleiner SMDBauteile wird zusätzlich durch das beim IM9200 Standfuß mitgelieferte Vergrößerungsglas erleichtert. Der elektrische Anschluss an den Testkopf des Impedanzanalysators erfolgt über die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung. Für die Verbindung der 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung mit dem 3,5-mm-Anschluss des Testkopfs ist der Adapter IM9906 erforderlich. Das IM9201 wird mit einem Gerätekoffer geliefert, der für die Aufbewahrung und den Transport der Testvorrichtung sowie des mitgelieferten Zubehörs ausgelegt ist. Der Gerätekoffer bietet zudem vorgesehene Aussparungen zur Aufnahme optionaler Zubehörteile wie des Adapters IM9906 und der Kalibrierstandards des IM9905, sodass zusammengehörige Komponenten bei Bedarf gemeinsam aufbewahrt werden können.

Der IM9200 ist ein Standfuß für die Impedanz-Testvorrichtungen IM9201 und IM9202. Er bildet eine stabile mechanische Basis und stellt eine definierte Ausrichtung zwischen dem Testkopf des Impedanzanalysators und der montierten Testvorrichtung sicher.Die Handhabung kleiner Bauteile bei Aufbau und Messung wird durch das abnehmbare Vergrößerungsglas des IM9200 unterstützt. Bei Nichtverwendung kann das Vergrößerungsglas im Gerätekoffer der Testvorrichtung aufbewahrt werden

Technische EckdatenMessfrequenz: 1 MHz bis 3 GHzTypische analoge Messzeit: 0,5 ms Grundgenauigkeit: ±0,65 % (Z, Messwert), ±0,38° (Phase) Typische Wiederholgenauigkeit: ca. ±0,07 % (z. B. 1 nH bei 3 GHz) Prüfsignalpegel: −40,0 dBm bis +1,0 dBm Typische AnwendungenCharakterisierung von HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern und Resonatoren in Forschung und EntwicklungImpedanzanalyse über Frequenzsweeps zur Bauteilbewertung und Designoptimierung Resonanzanalyse piezoelektrischer Bauteile Automatisierte Gut-Schlecht-Bewertung hochfrequenter Komponenten in Labor- und produktionsnahen Umgebungen  Modelle im Vergleich Modell Messfrequenz Prüfsignalpegel IM7587 1 MHz bis 3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7585 1 MHz bis 1,3 GHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7583 1 MHz bis 600 MHz −40,0 dBm bis +1,0 dBm IM7581 100 kHz bis 300 MHz −40,0 dBm bis +7,0 dBm Detaillierte ProduktübersichtImpedanzmessungen bis 3 GHz ermöglichen die Analyse von HF-Bauteilen, etwa für drahtlose Kommunikationsanwendungen. Mit einem Messfrequenzbereich von 1 MHz bis 3 GHz eignet sich der IM7587 unter anderem für die Charakterisierung von Chipinduktivitäten, Ferritperlen, Filtern, Resonatoren und Anpassnetzwerken im HF-Schaltungsdesign. Messleistung und Analysefunktionen Mit einer Grundgenauigkeit von ±0,65% der Impedanz und ±0,38° der Phase ist der IM7587 für präzise Impedanzmessungen bis 3 GHz ausgelegt. Eine typische Wiederholgenauigkeit von ca. ±0,07% ermöglicht auch bei hohen Frequenzen reproduzierbare Messergebnisse unter definierten Bedingungen. Die typische Messzeit von 0,5 ms erlaubt schnelle Frequenzdurchläufe, ohne die Messstabilität zu beeinträchtigen. Prüfsignalpegel von −40,0 dBm bis +1,0 dBm ermöglichen eine anwendungsgerechte Anregung der Prüflinge. Der IM7587 unterstützt LCR-Messungen, Frequenzsweeps sowie einen kontinuierlichen Messbetrieb und stellt Funktionen für Comparator- und BIN-Bewertungen sowie Flächen-, Peak- und Spot-Analysen zur Verfügung. Alle Messeinstellungen und Analysefunktionen werden direkt über das integrierte 8,4-Zoll-Farb-Touchdisplay vorgenommen. USB-, LANund EXT-I/O-Schnittstellen sind standardmäßig integriert, RS-232C und GP-IB stehen optional zur Verfügung. Für weiterführende Auswertungen verfügt der IM7587 über eine Ersatzschaltbildanalyse mit fünf repräsentativen Schaltungsmodellen sowie einer automatischen Modellauswahl auf Basis der Messdaten. Neben LCR-Modellen mit drei Elementen steht auch ein Modell mit vier Elementen zur Analyse piezoelektrischer Bauteile zur Verfügung. Diese Modellvielfalt ermöglicht Anwendungen von der allgemeinen Bauteilcharakterisierung bis zur Resonatorbewertung.Testkopf und Testvorrichtungen Der IM7587 verwendet einen kompakten, handtellergroßen Testkopf, der über ein spezifiziertes Verbindungskabel mit dem Hauptgerät verbunden ist. Er ist mit Kabellängen von 1 m oder 2 m verfügbar und ermöglicht damit einen ausgewogenen Kompromiss zwischen Messgenauigkeit und Installationsflexibilität. Durch die Positionierung des Testkopfs in unmittelbarer Nähe zum Prüfling wird die Signallänge minimiert und parasitäre Induktivitäten und Kapazitäten reduziert, die Hochfrequenzmessungen sonst beeinflussen würden. Dieses Design unterstützt stabile und reproduzierbare Messergebnisse bis 3 GHz und reduziert zugleich den Platzbedarf auf dem Labortisch in HF-Umgebungen. Für die Messung von SMD-Bauteilen wird der IM7587 typischerweise in Kombination mit der IM9201 SMD-Testvorrichtung verwendet. Das IM9201 ist für sechs gängige SMDGehäusegrößen von 0201 bis 1210 ausgelegt und stellt eine stabile zweipolige Kontaktierung an der Unterseite der Bauteile bereit. Die Kontaktgeometrie ist für Messungen über den gesamten Messfrequenzbereich ausgelegt. Die Positionierung erfolgt auf definierten Kontaktflächen mit Anschlag- und Schiebemechanismus, wodurch eine korrekte Ausrichtung und reproduzierbare Platzierung sichergestellt wird. Dies reduziert die Messstreuung und ermöglicht die präzise Charakterisierung von SMD-HF-Bauteilen wie Chipinduktivitäten, Ferritperlen und Filtern. Für eine stabile Montage wird die IM9201 Testvorrichtung auf dem IM9200 Standfuß befestigt. Der Standfuß sorgt für einen sicheren Stand und eine definierte mechanische Ausrichtung zwischen Testkopf und Testvorrichtung und enthält eine Lupe zur erleichterten Handhabung kleiner Bauteile. Für den elektrischen Anschluss der Testvorrichtung an den Testkopf des Impedanzanalysators ist der Adapter IM9906 erforderlich, der den 3,5-mmAnschluss des Testkopfs auf die 7-mm-Schnittstelle der Testvorrichtung adaptiert.Kalibrierung und Messintegrität Das optionale IM9905 Kalibrierkit stellt OPEN-, SHORT- und LOAD-Referenzstandards zur Korrektur systembedingter Messabweichungen bei hochfrequenten Impedanzmessungen bis 3 GHz bereit. Die Kalibrierung kompensiert parasitäre Effekte im Messpfad bis zur definierten Referenzebene, einschließlich des Testkopfs des Impedanzanalysators und der verbindenden Schnittstellen. Der Anschluss der Kalibrierstandards erfolgt über denselben IM9906 Adapter, der auch für Testvorrichtungen verwendet wird. Der IM7587 verfügt über umfassende Funktionen zur Kontaktprüfung, darunter DCRPrüfung, Hi-Z-Erkennung sowie eine Überprüfung der Messsignalform. Die Kontaktprüfung kann vor und nach der Messung durchgeführt werden und dient der rechtzeitigen Erkennung fehlerhafter Kontaktierungen sowie der Vermeidung ungültiger Messergebnisse. In Japan entwickelt und gefertigt, ist der IM7587 auf eine dauerhaft stabile Messperformance in Messund Prüfumgebungen mit hohen Anforderungen an Langzeitstabilität ausgelegt.