De LCR-meters en impedantieanalysatoren van HIOKI zijn geschikt voor een breed scala aan toepassingen in R&D, productie en kwaliteitscontrole, variërend van elektrochemische impedantiespectroscopie en metingen van condensatoren, inductoren en transformatoren tot het testen van SMD-componenten bij RF-frequenties.
Snelle meettijden, sweep-functies en comparator-/BIN-mogelijkheden ondersteunen zowel laboratoriumgebruik als geautomatiseerde productieomgevingen, waarbij alle instrumenten in Japan zijn ontworpen en vervaardigd.
Kies uw instrument, van elektrochemisch tot RF, en alles daartussenin.
Impedantieanalysator en LCR-meter in één instrument, 4 Hz tot 5 MHz, meetsnelheid van 0,5 ms,
basisnauwkeurigheid Z: ±0,08%, θ: ±0,05°, gegarandeerde nauwkeurigheid vanaf 1 mΩ, comparator-
en BIN-functie, interfaces: USB, LAN, RS-232C, GP-IB, handler I/O
LCR-meter met ingebouwde frequentiesweep, DC en 1 mHz tot 200 kHz, meetsnelheid van 2 ms, basisnauwkeurigheid van ±0,05%, transformatormodus, DC-weerstand, USB- en handler-I/O, optioneel LAN, RS-232C en GP-IB
LCR-meter, gelijkstroom en 1 mHz tot 200 kHz, meetsnelheid van 2 ms, basisnauwkeurigheid van ±0,05%, transformatormodus, modus voor lage impedantie en hoge nauwkeurigheid, gelijkstroomweerstand, USB- en handler-I/O, optioneel LAN, RS-232C en GP-IB
Chemische impedantieanalysator, 1 mHz tot 200 kHz, batterijmodus met automatische DC-voorspanning tot 5 V, frequentiesweep en analyse van equivalente schakelingen, basisnauwkeurigheid van ±0,05%, USB- en handler-I/O, optioneel LAN, RS-232C en GP-IB
Impedantieanalysator voor metingen van 100 kHz tot 300 MHz met een basisnauwkeurigheid
±0,72% Z en ±0,41° fase, herhaalbaarheid ±0,07%, typische meettijd 0,5 ms,
vergelijkings- en BIN-functies, USB, LAN en EXT I/O, optioneel RS-232C of GP-IB
Impedantieanalysator voor metingen van 1 MHz tot 3 GHz met een basisnauwkeurigheid van ±0,65% Z
en ±0,38° fase, herhaalbaarheid ±0,07%, typische meettijd 0,5 ms, comparator- en
BIN-functies, USB, LAN en EXT I/O, optioneel RS-232C of GP-IB
