Die LCR-Messgeräte und Impedanz-Analysatoren von HIOKI decken ein breites Anwendungsspektrum in Forschung & Entwicklung, Produktion und Qualitätssicherung ab, von elektrochemischer Impedanzspektroskopie (EIS) über Messungen an Kondensatoren, Induktivitäten und Transformatoren bis hin zu SMD-Bauteiltests bei HF-Frequenzen.
Kurze Messzeiten, Sweep-Funktionen sowie Comparator- und BIN-Funktionen unterstützen sowohl den Laboreinsatz als auch automatisierte Produktionsumgebungen, wobei alle Instrumente in Japan entwickelt und gefertigt werden.
Finden Sie hier das passende Instrument für Ihre Anwendung.
Medidor LCR, de 4 Hz a 8 MHz, velocidad de medición de 1 ms, precisión básica de ±0,05 % en impedancia
y ±0,03° en fase, garantizada de 1 mΩ a 200 MΩ, comparador y BIN, polarización de CC, USB,
LAN, RS-232C, GP-IB, BCD, E/S para controlador.
Analizador de impedancia y medidor LCR en un solo instrumento, de 4 Hz a 5 MHz, velocidad de medición de 0,5 ms,
precisión básica Z: ±0,08 %, θ: ±0,05°, precisión garantizada a partir de 1 mΩ, funciones de comparador
y función BIN, interfaces: USB, LAN, RS-232C, GP-IB, E/S de controlador
Medidor LCR, de 40 Hz a 200 kHz, velocidad de medición de 2 ms, precisión básica de ±0,08 %,
medición continua, funciones de comparador y BIN, resistencia en corriente continua, USB, LAN y
E/S de controlador
Medidor LCR con barrido de frecuencia integrado, CC y de 1 mHz a 200 kHz, velocidad de medición de 2 ms, precisión básica de ±0,05 %, modo transformador, resistencia en CC, E/S USB y para controladores, LAN opcional, RS-232C y GP-IB
Medidor LCR, CC y de 1 mHz a 200 kHz, velocidad de medición de 2 ms, precisión básica de ±0,05 %, modo transformador, modo de alta precisión y baja impedancia, resistencia en CC, E/S USB y Handler, LAN opcional, RS-232C y GP-IB
Analizador de impedancia y medidor LCR con análisis de circuito equivalente, de 4 Hz a 5 MHz, precisión básica
Z: ±0,08 %, θ: ±0,05°, precisión garantizada a partir de 1 mΩ, comparador y función BIN
, interfaces: USB, LAN, RS-232C, GP-IB, E/S de controlador
Technische EckdatenFrequenzbereich: 1 mHz bis 200 kHzGrundgenauigkeit: ±0,05 %Batteriemodus mit automatischem DC-Bias bis 5 VFrequenz-Sweep und Ersatzschaltbildanalyse mit Nyquist- und Bode-Darstellung 5,7 Zoll Farb TFT LCD mit Touchpanel
Typical ApplicationsElektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) von Batteriezellen und Doppelschichtkondensatoren (EDLC) Analyse von Ladungsübertragungswiderstand, Ionenleitfähigkeit und Diffusionsverhalten in elektrochemischen Systemen Ersatzschaltbildmodellierung elektrochemischer Prozesse und Materialien Wareneingangsprüfung und Klassifizierung von Batteriezellen mittels Comparator- und BIN-Funktion
Detaillierte ProduktübersichtDer IM3590 von HIOKI ist ein chemischer Impedanz-Analysator für die Analyse elektrochemischer Bauelemente und Energiespeicher wie Batteriezellen oder elektrochemische Doppelschichtkondensatoren (EDLC). Er kombiniert breitbandige Frequenz-Sweep-Messungen von 1 mHz bis 200 kHz mit integrierter Ersatzschaltbildanalyse und unterstützt damit eine detaillierte Impedanzcharakterisierung elektrochemischer Systeme. BatteriemodusEin spezieller Batteriemodus ermöglicht die direkte Durchführung elektrochemischer Impedanzmessungen an Batteriezellen. In diesem Modus legt das Gerät automatisch einen DC-Bias an, der an die jeweilige Zellspannung angepasst wird, und stellt damit die für die Impedanzanalyse erforderlichen elektrochemischen Arbeitspunkte bereit. Damit lassen sich frequenzabhängig Parameter wie Ladungsübertragungswiderstand, Ionenleitfähigkeit und Diffusionsverhalten unter praxisnahen Betriebsbedingungen analysieren. Der IM3590 unterstützt elektrochemische Impedanzmessungen im Impedanzbereich von etwa 100 mΩ bis 10 Ω und eignet sich damit insbesondere für die Analyse von Batteriezellen mit Innenwiderständen ab etwa 10 mΩ.Frequenz-Sweep und Ersatzschaltbildanalyse
Der IM3590 unterstützt Frequenz-Sweep-Messungen über den gesamten Messbereich von 1 mHz bis 200 kHz mit bis zu 800 frei konfigurierbaren Frequenzpunkten. Dies ermöglicht eine detaillierte frequenzabhängige Impedanzanalyse und bildet die Grundlage für Nyquist- und Bode-Darstellungen elektrochemischer Systeme.Für die Modellierung elektrochemischer Prozesse stellt das Gerät mehrere elektrochemische Ersatzschaltmodelle zur Verfügung, darunter unipolare und polare Konfigurationen sowie klassische LCR-Modelle. Auf Basis der Sweep-Daten lassen sich Parameter wie Elektrolytwiderstand, Ladungsübertragungswiderstand, Doppelschichtkapazität, konstante Phasenelemente und Induktivitäten direkt bestimmen. Messparameter und Automatisierung
Für Frequenz-Sweep-Messungen und Ersatzschaltbildanalysen erreicht der IM3590 je nach Messfrequenz Messzeiten bis zu 2 ms bei einer Grundgenauigkeit von ±0,05 %. Prüfsignalspannung und -strom lassen sich im Bereich von 5 mV bis 5 V beziehungsweise 10 µA bis 100 mA einstellen. In Kombination mit dem optionalen 9478 Mantel-Temperaturfühler unterstützt das Gerät temperaturabhängige Impedanzmessungen, sodass Impedanzverläufe und die aus der Ersatzschaltbildanalyse abgeleiteten Parameter in Abhängigkeit von der Temperatur ausgewertet werden können. Comparator- und BIN-Funktionen ermöglichen eine automatisierte Gut-Schlecht-Bewertung, beispielsweise für Wareneingangsprüfungen oder Screening-Prozesse. Als Schnittstellen stehen USB serienmäßig sowie optional LAN, RS-232C und GP-IB zur Verfügung. Das 5,7 Zoll große Farb-Touchdisplay erlaubt eine übersichtliche Darstellung von Messparametern, Kurven und Analyseergebnissen. Entwickelt und gefertigt in Japan, ist der IM3590 für reproduzierbare Messergebnisse und einen stabilen Langzeitbetrieb im Labor- und Entwicklungsumfeld ausgelegt.
Analizador de impedancia para mediciones de 100 kHz a 300 MHz con una precisión básica
±0,72 % en Z y ±0,41° en fase, repetibilidad de ±0,07 %, tiempo de medición típico de 0,5 ms,
funciones de comparador y BIN, USB, LAN y E/S EXT, RS-232C o GP-IB opcionales
Analizador de impedancia para mediciones de 1 MHz a 3 GHz con una precisión básica de ±0,65 % en Z
y ±0,38° en fase, repetibilidad de ±0,07 %, tiempo de medición típico de 0,5 ms, funciones de comparador y
BIN, USB, LAN y E/S EXT, RS-232C o GP-IB opcionales
